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AM-360 光學(xué)元件光譜分選儀
AM-360 光學(xué)元件光譜分選儀是平⾯光學(xué)元件多點(diǎn)多⻆度透/反射率⾃動(dòng)檢測(cè)設(shè)備。可以根據(jù)每種樣品⾃定義設(shè)置的測(cè)試板進(jìn)⾏多⻆度透過、反射、偏光等批量測(cè)試，⼀次性完成全部測(cè)試；樣品載運(yùn)平臺(tái)載運(yùn)速度快，精度⾼，⾼速實(shí)現(xiàn)樣品多點(diǎn)多⻆度的透/反射率檢測(cè)，還可對(duì)結(jié)果進(jìn)⾏快速質(zhì)檢和分級(jí)，極⼤提⾼檢測(cè)效率。
儀器特點(diǎn)
1. ⽀持小樣品檢測(cè)；
2. ⽀持偏振光測(cè)量；
3. 可⾃定義測(cè)量位置；
4. 快速、⽆損、⾃動(dòng)檢測(cè)；
5. ⽀持陣列式或⼤樣品分點(diǎn)全檢；
6. 料盤尺⼨可定制 ；
7. ⽀持測(cè)量絕對(duì)反射率、相對(duì)反射率、絕對(duì)透過率、相對(duì) 透過率；
8. ⼀鍵測(cè)量出結(jié)果，可定制報(bào)表輸出格式。
測(cè)量對(duì)象
技術(shù)參數(shù)
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